atoomkrêft afm mikroskoop
Atomic Force Microscope (AFM), in analytysk ynstrumint dat kin wurde brûkt om de oerflakstruktuer fan fêste materialen te studearjen, ynklusyf isolators.It ûndersiket de oerflakstruktuer en eigenskippen fan in stof troch de ekstreem swakke ynteratomyske ynteraksje te detektearjen tusken it oerflak fan it te testen stekproef en in mikro-krêft gefoelich elemint.Sil in pear swakke krêft ekstreem gefoelige mikro-cantilever ein fêst, it oare ein fan 'e lytse tip tichtby de stekproef, dan sil ynteraksje mei it, de krêft sil meitsje de mikro-cantilever deformation of beweging steat feroarings.By it skennen fan 'e stekproef kin de sensor brûkt wurde om dizze feroaringen te detektearjen, kinne wy de ferdieling fan krêftynformaasje krije, om de oerflakmorfology fan nano-resolúsjeynformaasje en ynformaasje oer oerflakrûch te krijen.
★ Yntegreare skennende sonde en sample stag fersterke de anty-ynterferinsje fermogen.
★ Precision laser en probe posysjonearring apparaat meitsje it feroarjen fan de sonde en it oanpassen fan it plak ienfâldich en handich.
★ Troch it brûken fan de stekproef probe approaching wize, de needle koe loodrecht op de stekproef skennen.
★ Automatyske pulsmotor drive kontrôle sample probe fertikale approaching, te berikken sekuere posisjonearring fan it skennen gebiet.
★ Sample skennen gebiet fan belang koe frij ferpleatst troch it brûken fan it ûntwerp fan hege presyzje sample mobyl apparaat.
★ CCD observaasje systeem mei optyske posisjonearring berikt real-time observaasje en posisjonearring fan de sonde sample scan gebiet.
★ It ûntwerp fan elektroanyske kontrôle systeem fan modularization fasilitearre ûnderhâld en trochgeande ferbettering fan circuit.
★ De yntegraasje fan meardere skennen modus kontrôle circuit, gearwurkje mei software systeem.
★ Spring suspension dy't ienfâldich en praktysk ferbettere anty-ynterferinsje fermogen.
| Wurk modus | FM-Tapping, opsjoneel kontakt, wriuwing, faze, magnetysk as elektrostatysk |
| Grutte | Φ≤90 mm,H≤20 mm |
| Scanningberik | 20 mmin XY-rjochting,2 mm yn Z-rjochting. |
| Scanresolúsje | 0.2nm yn XY rjochting,0.05nm yn Z-rjochting |
| Bewegingsberik fan sample | ± 6,5 mm |
| De pulsbreedte fan 'e motor komt tichterby | 10±2 ms |
| Ofbylding sampling punt | 256×256,512×512 |
| Optyske fergrutting | 4X |
| Optyske resolúsje | 2,5 mm |
| Scan rate | 0.6Hz~4.34Hz |
| Scan hoeke | 0°~360° |
| Scankontrôle | 18-bit D/A yn XY rjochting,16-bit D/A yn Z-rjochting |
| Data sampling | 14-bitA / D,double16-bit A / D multi-kanaal syngroane sampling |
| Feedback | DSP digitale feedback |
| Feedback sampling rate | 64.0KHz |
| Kompjûter ynterface | USB 2.0 |
| Bedriuwsomjouwing | Windows 98/2000/XP/7/8 |