X-Ray Fluorescence spektrometer
Bureau foar kwaliteit en technysk tafersjoch (miljeurjochtline)
RoHS/Rohs (Sina)/ELF/EN71
Toy
Papier, keramyk, ferve, metaal, ensfh.
Elektryske en elektroanyske materialen
Semiconductors, magnetyske materialen, solder, elektroanyske dielen, ensfh.
Stiel, non-ferro metalen
Alloys, edele metalen, slakken, erts, ensfh.
gemyske yndustry
Minerale produkten, gemyske fezels, katalysatoren, coating, ferve, kosmetika, ensfh.
miljeu
Boaiem, iten, yndustryôffal, stienkoalpoeder
Oalje
Oalje, smeerolie, swiere oalje, polymeer, ensfh.
oar
Coating dikte mjitting, stienkoal, argeology, materiaal ûndersyk en forensics, ensfh
● Trije ferskillende soarten X-ray strieling feiligens systemen, software interlocks, hardware interlocks, en meganyske interlocks, sille hielendal elimineren strieling lekken ûnder alle wurkjende betingst.
● De XD-8010 hat in unyk ûntworpen optysk paad dat de ôfstannen tusken de röntgenboarne, sample en detektor minimearret, wylst de fleksibiliteit behâldt om te wikseljen tusken in ferskaat oan filters en kollimators.Dit ferbetteret de gefoelichheid signifikant, en ferleget de deteksjelimyt.
● De grutte folume sample keamer lit grutte samples wurde direkt analysearre sûnder de needsaak foar skea of pre-behanneling.
● Ienfâldige analyse mei ien knop mei in handige en yntuïtive software-ynterface.Profesjonele oplieding is net fereaske om de basis operaasje fan it ynstrumint út te fieren.
● De XD-8010 jout rappe elemintêre analyze fan eleminten fan S oant U, mei ferstelbere analysetiden.
● Oant 15 kombinaasjes fan filters en kollimators.Filters fan ferskate dikten en materialen binne beskikber, lykas kollimators fariearjend fan Φ1 mm oant Φ7 mm.
● De krêftige funksje foar rapportopmaak makket fleksibele oanpassing fan 'e automatysk oanmakke analyserapporten mooglik.De oanmakke rapporten kinne wurde opslein yn PDF- en Excel-formaten.De analysegegevens wurde automatysk opslein nei elke analyze. Histoaryske gegevens en statistiken kinne op elk momint tagonklik wurde fanút in ienfâldige query-ynterface.
● Mei help fan it ynstrumint syn sample kamera, kinne jo observearje de posysje fan de stekproef relatyf oan de fokus fan de X-ray boarne.Ofbyldings fan 'e stekproef wurde nommen as de analyze begjint en kinne wurde werjûn yn it analyserapport.
● It spektrumfergelikingsark fan 'e software is nuttich foar kwalitative analyze en materiaalidentifikaasje en fergeliking.
● Troch gebrûk fan bewiisde en effektive metoaden fan kwalitative en kwantitative analyze, kin de krektens fan 'e resultaten garandearre wurde.
● De iepen en fleksibele kalibraasjekurve-oanpassingsfunksje is nuttich foar in ferskaat oan tapassingen lykas it opspoaren fan skealike stoffen.
Skealike elemint analyze metoade
| Gefaarlike stoffen | Foarbyld | |
| Screening analyze | Detaillearre analyze | |
| Hg | X-ray spektroskopy | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6+ | Röntgenspektroskopie (analyze fan totale Cr) | Ionenchromatografy |
| PBB's / PBDE's | Röntgenspektroskopie (analyze fan totaal Br) | GC-MS |
Kwaliteitsbehearproses
Meting fan skealik spoare-elemint yn polyetyleenmonsters, lykas Cr, Br, Cd, Hg en Pb.
• It ferskil fan opjûne wearden en de eigentlike wearden fan Cr, Br, Cd, Hg en Pb.
It ferskil fan opjûne wearden en de werklike wearden fan Cr, (Ienheid: ppm)
| Foarbyld | Opjûne wearde | Werklike wearde (XD-8010) |
| Leech | 0 | 0 |
| Foarbyld 1 | 97,3 | 97,4 |
| Foarbyld 2 | 288 | 309.8 |
| Foarbyld 3 | 1122 | 1107.6 |
It ferskil fan opjûne wearden en de werklike wearden fan Br, (Ienheid: ppm)
| Foarbyld | Opjûne wearde | Werklike wearde (XD-8010) |
| Leech | 0 | 0 |
| Foarbyld 1 | 90 | 89,7 |
| Foarbyld 2 | 280 | 281,3 |
| Foarbyld 3 | 1116 | 1114.1 |
It ferskil fan opjûne wearden en de werklike wearden fan Cd, (Ienheid: ppm)
| Foarbyld | Opjûne wearde | Werklike wearde (XD-8010) |
| Leech | 0 | 0 |
| Foarbyld 1 | 8.7 | 9.8 |
| Foarbyld 2 | 26.7 | 23.8 |
| Foarbyld 3 | 107 | 107,5 |
It ferskil fan opjûne wearden en de werklike wearden og Hg, (Ienheid: ppm)
| Foarbyld | Opjûne wearde | Werklike wearde (XD-8010) |
| Leech | 0 | 0 |
| Foarbyld 1 | 91,5 | 87,5 |
| Foarbyld 2 | 271 | 283,5 |
| Foarbyld 3 | 1096 | 1089,5 |
It ferskil fan opjûne wearden en de werklike wearden fan Pb, (Ienheid: ppm)
| Foarbyld | Opjûne wearde | Werklike wearde (XD-8010) |
| Leech | 0 | 0 |
| Foarbyld 1 | 93.1 | 91.4 |
| Foarbyld 2 | 276 | 283,9 |
| Foarbyld 3 | 1122 | 1120.3 |
De werhelle mjitgegevens fan sample 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Eenheid: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128.7 | 1118.9 | 110.4 | 1079,5 | 1109.4 |
| 2 | 1126.2 | 1119,5 | 110.8 | 1072.4 | 1131.8 |
| 3 | 1111.5 | 1115,5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
| 4 | 1122.1 | 1119.9 | 110.3 | 1086,0 | 1103.0 |
| 5 | 1115.6 | 1123.6 | 103.9 | 1080,7 | 1114.8 |
| 6 | 1136,6 | 1113.2 | 101.2 | 1068.8 | 1103.6 |
| 7 | 1129,5 | 1112.4 | 105.3 | 1079,0 | 1108.0 |
| Trochsneed | 1124.3 | 1117.6 | 108.2 | 1076,5 | 1110.0 |
| Standertdeviaasje | 8.61 | 4.03 | 4.99 | 6.54 | 10.82 |
| RSD | 0.77% | 0.36% | 4.62% | 0.61% | 0.98% |
Sekundêr filter foar Pb-elemint (Stalen substraatmonsters), Sample: Stiel (Pb 113ppm)
1.X-ray strieling út de primêre X-ray tube, wurdt bestraald troch in kollimator nei it stekproef.
2.Primary X-ray excitation skaaimerken fan 'e eleminten befette yn' e sample X-rays troch de sekundêre kollimator yn 'e detektor
3.Processed troch de detektor, it foarmjen fan fluorescence spektroskopy gegevens
4.Computer spectroscopy data analyze, kwalitative en kwantitative analyze is foltôge
| Model | NB-8010 | |
| Analyse prinsipe | Enerzjy dispersive X-ray fluorescence analyze | |
| Eleminten Range | S (16) | |
| Foarbyld | Plastic / metaal / film / bêst / floeistof / poeder, ensfh., elke grutte en unregelmjittige foarm | |
| X-ray buis | Doel | Mo |
| Tube voltage | (5-50) kV | |
| Tube hjoeddeistige | (10-1000) en oaren | |
| Sample bestraling diameter | F1mm-F7mm | |
| Filter | 15 sets fan gearstalde filter is automatysk selektearre, en de automatyske konverzje | |
| Detector | Ymport út de Feriene Steaten Si-PIN detektor | |
| De gegevensferwurking circuit board | Ymport út de Feriene Steaten, mei it brûken fan Si-PIN detector sets | |
| Foarbyld observaasje | Mei 300.000 piksels CCD-kamera | |
| De sample keamer grutte | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Analyse metoade | Lineêre lineêre, kwadratyske koade rigels, sterkte en konsintraasje kalibraasje korreksje | |
| Bestjoeringssysteem software | Windows XP, Windows 7 | |
| Data behear | Excel-gegevensbehear, testrapporten, PDF / Excel-formaat bewarre | |
| Working miljeu | Temperatuer: £30°C. Feuchte £70% | |
| Gewicht | 55kg | |
| Ofmjittings | 550´450´395 | |
| Streamtafier | AC 220V±10%, 50/60 Hz | |
| Bepaling betingsten | Atmosfearyske omjouwing | |